2025数学建模国赛B题【碳化硅外延层厚度的确定】思路详解
碳化硅作为一种新兴的第三代半导体材料,以其优越的综合性能表现正在受到越来越多 的关注。碳化硅外延层的厚度是外延材料的关键参数之一,对器件性能有重要影响。红外干涉法是外延层厚度测量的无损伤测量方法,其工作原理是,外延层与衬底因掺杂 载流子浓度的不同而有不同的折射率,红外光入射到外延层后,一部分从外延层表面反射出 来,另一部分从衬底表面反射回来(图 1),这两束光在一定条件下会产生干涉条纹。可根据 红
·
9.6凌晨重磅更新!:A题完整论文代码已出:
9.5日晚重磅更新!:B题完整论文代码已出:
碳化硅作为一种新兴的第三代半导体材料,以其优越的综合性能表现正在受到越来越多 的关注。碳化硅外延层的厚度是外延材料的关键参数之一,对器件性能有重要影响。因此, 制定一套科学、准确、可靠的碳化硅外延层厚度测试标准显得尤为重要。 红外干涉法是外延层厚度测量的无损伤测量方法,其工作原理是,外延层与衬底因掺杂 载流子浓度的不同而有不同的折射率,红外光入射到外延层后,一部分从外延层表面反射出 来,另一部分从衬底表面反射回来(图 1),这两束光在一定条件下会产生干涉条纹。可根据 红外光谱的波长、外延层的折射率和红外光的入射角等参数确定外延层的厚度。
精力有限,以下只是简略的图文版初步思路,更详细的视频版完整讲解请移步:
【获奖必看】2025数学建模国赛选题建议及A、B、C题思路_哔哩哔哩_bilibili
OK,上述思路的文档领取、视频讲解以及后续的完整成品论文预定请点击我的下方个人卡片查看↓:
更多推荐
所有评论(0)