一、什么是工业电力检测仪?

工业电力检测仪的主要作用是对电力系统中的各种电气参数进行测量和监测,以确保电力设备和线路的安全、稳定运行。具体包括:

  1. 测量电压、电流、功率等基本电参数,帮助了解电力系统的运行状况。
  2. 检测电能质量问题,如谐波、电压波动和频率偏差,保障供电质量。
  3. 诊断和定位电气故障,及时发现异常,预防设备损坏和事故发生。
  4. 记录和存储运行数据,便于后续分析和维护决策。
  5. 支持远程监控和管理,提升电力系统的智能化水平和运维效率。

在企业生产中,电力检测仪是一项关键保障电力系统安全稳定、提高运行效率的重要工具。电力出了问题,如人血液出了问题。常见工业电力检测仪外观如下所示(来源网络,仅供参考):image-20250614164658210

二、整体结构

  1. 前端显示与交互模块
    • 液晶显示屏(LCD):显示电压、电流、功率、电能等实时数据。
    • 按键/触摸面板:用于参数设置与菜单操作。
  2. 信号采集模块
    • 电压采样电路:通过分压电阻或电压互感器采集交流电压信号。
    • 电流采样电路:通过电流互感器(CT)获取负载电流信号。
  3. 信号处理模块
    • 模数转换器(ADC):将模拟信号转换为数字信号供处理。
    • 处理器/MCU(常用ARM Cortex-M系列):进行运算、控制逻辑执行、电能质量分析等。
  4. 存储单元
    • EEPROM / Flash / FRAM:存储设备参数、历史数据、日志信息。
    • RTC(实时时钟)+备份电池:保证断电后仍能记录准确时间。
  5. 通信模块
    • RS485接口(Modbus RTU协议):实现与后台系统的数据通信。
    • 以太网/4G/NB-IoT(可选):支持远程监控与数据上报。
  6. 电源模块
    • 内置稳压电源(AC/DC转换),提供多路电压(如3.3V/5V)给各功能单元供电。

三、技术方案介绍

在这里插入图片描述

本技术方案基于国产高性能主控芯片 GD32F470VI 与雷龙 SD NAND 存储芯片 CSNP32GCR01-AOW,构建了一套面向工业电力监测场景的嵌入式检测终端。系统通过 多通道高速 ADC 配合 DMA 与中断机制 实现三相电压、电流的高精度采样,采用优化的 定点数计算模型 进行有功、无功、功率因数等参数运算;软件架构基于 FreeRTOS,具备多任务调度、低功耗控制与常用工业通信协议支持(如 Modbus RTU/TCP、MQTT、HTTP 等),并内置 Bootloader 与 OTA 升级机制。存储方面采用 SDIO 接口 接入 CSNP32GCR01-AOW SD NAND 芯片,具备 页块管理、坏块检测、ECC 校验与掉电数据恢复能力,结合系统设计的 日志式文件系统与断点续写机制,确保历史数据的稳定写入和异常环境下的数据完整性。该方案适用于智能配电、能耗管理、边缘侧电能质量分析等应用场景,具备高可靠性、强扩展性与工业级部署能力。

主控芯片方案

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选用GD32F470VI作为主控芯片,主要基于以下考虑:

  • 性能强劲:芯片基于ARM Cortex-M4内核,主频高达240MHz,具备强大的处理能力,能够应对高频采样与复杂电力计算任务。
  • 资源丰富:集成1MB Flash、340KB SRAM,并具备丰富的外设接口(如USB OTG、CAN、以太网、ADC/DAC等),满足电力检测系统对通信与数据采集的多样化需求。同时这颗芯片还自带了SDIO接口,可直接与CSNP32GCR01-AOW芯片连接。
  • 开发友好:软硬件层面高度兼容STM32F4系列,便于快速开发和项目移植。
  • 国产可控:芯片由兆易创新自主研发,供应链稳定,是当前国产高性能MCU的代表,符合工业仪表对长期供货与自主可控的要求。

存储芯片方案

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存储部分采用CSNP32GCR01-AOW芯片,是一款具有高度集成度和工业级可靠性的SD NAND Flash,选型理由包括:

  • 免驱动设计:自带坏块管理机制,符合SD 2.0协议,无需编写底层驱动,直接移植现成TF卡代码,开发简便。
  • 高可靠性:通过1万次掉电测试,支持高低温环境工作,数据保持性与抗干扰能力优于普通TF卡。非常适合工业领域。
  • 高速读写:符合Class 10标准,读取速度达23.5MB/s,写入速度12.3MB/s,满足大数据量记录与实时存储要求。
  • 封装灵活:采用LGA-8贴片封装(6.2×8mm),体积小、便于自动化焊接和量产,兼容TF卡启动方式。
  • 成本可控:相较eMMC更具成本优势,兼顾可靠性与性价比。

四、核心技术模块分析

主控芯片

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产品选用的GD32F470VI是兆易创新推出的一款基于ARM Cortex-M4内核的高性能MCU,主频高达240MHz,内置1MB Flash340KB SRAM,具备优异的运算能力和数据处理性能。芯片集成以太网、USB OTG、CAN、SDIO、多路串口及高速ADC/DAC等丰富的外设资源,可高效处理电力参数采集、数据分析、通信传输等任务。

其软硬件在很大程度上与STM32F4系列兼容,既利于开发移植,又保障了国产化与长期供货的稳定性,适用于对接口与性能要求较高的电力检测、工业控制等场景。

存储芯片

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本方案采用的存储芯片为CS创世CSNP32GCR01-AOW,这是一款具备自带坏块管理能力的工业级贴片式TF卡芯片,封装尺寸仅为6.2×8mm(LGA-8),稳定可靠 耐高温能力强,抗电流冲击强。已通过10k次随机掉电测试,可在-25℃到+85℃温度下正常工作。兼具小巧体积与高可靠性,特别适用于工业类嵌入式设备。

该芯片基于标准SD 2.0协议,可兼容主流MCU平台(如STM32),可直接与主控芯片GD32F470VI连接,并提供参考驱动例程,极大简化了软件开发流程。其核心优势如下:

  • 自带坏块管理机制:无需用户编写底层驱动,简化开发。
  • 固件可定制,满足不同应用对数据处理逻辑的个性化需求。
  • Class 10速度等级:实测读取速度达23.5MB/s,写入速度12.3MB/s,满足设备高频率数据读写需求。
  • 耐高低温、抗干扰性强,通过上万次掉电测试,适应工业电力现场的复杂环境。
  • 支持TF卡启动的SoC平台,具备良好的通用性与兼容性。
  • 相比传统TF卡更加稳定,较eMMC方案具有成本优势,性价比高。
  • 支持贴片自动焊接与手工焊接,方便工艺生产。

综上所述,CSNP32GCR01-AOW在可靠性、易用性、封装尺寸、通信兼容性和数据安全等方面表现优异,是替代传统TF卡/SD卡的理想工业级解决方案,能够有效保障电力检测仪长期稳定运行。

五、存储芯片的实测表现(使用CrystalDiskInfo进行测试)

测试设备介绍

本次测试使用的是搭载雷龙存储芯片(型号:CSNP32GCR01-AOW)的测试板,一款接近工业级的高可靠性存储芯片。测试板如下图所示:接口兼容TF卡,可直接插入到TF卡槽上使用,也可以通过TF读卡器连接到电脑上作为U盘来使用。
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读写性能测试

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  • 大批量数据传输中,读取速度平均值为20.5M/s左右,写入速度平均为6M/s左右,且随着数据量变大,逐渐向7M/s靠拢。足以说明设备的稳定性。

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  • 对于数据完整性,在软件频繁的传输—断开-----传输----断开中,也保证了数据的整体完整

ATTO

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  • 可以看到,在ATTO中的数据传输测试中表现情况更加优秀,长时间的测试中也运行情况良好。

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单次校验

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  • 单词循环测试速度快,且速度高
循环校验

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  • 在长时间的循环校验中,没有出现问题,且速度一直维持在一个定值。完美满足工业电力检测仪的作业需要。

稳定性测试

  • 优异的环境适应能力:具备良好的耐高温性能和抗电流冲击能力,已通过1万次高低温环境下的随机掉电测试,验证其在极端条件下仍能稳定运行。
  • 先进的Flash管理机制:通过四大算法保障存储系统稳定可靠:
    • 平均读写算法:避免局部块频繁擦写,延长整体NAND Flash使用寿命。
    • EDC/ECC算法:实现数据校验与错误修复,提升数据完整性与安全性。
    • 均衡电荷散射算法:分散擦写位置,减小电场干扰,提高稳定性。
    • 垃圾回收算法:定期清理无效数据,保持存储空间可用性与系统运行效率。

综上,该设备在物理环境适应性与数据存储可靠性方面均具备较高水准。

六、工业产品对存储芯片的需求与未来发展

随着工业4.0与电力智能化进程的不断推进,电力测试仪器正从传统的功能性设备向高智能、强交互、边缘计算及远程运维等方向演进。这对设备的核心控制与数据存储能力提出了更高要求,尤其在以下几方面体现尤为突出:

  • 数据增长与本地存储需求提升:未来电力设备将持续产生大量运行数据、故障日志及波形信息,对本地高速存储的容量与写入性能提出更高标准;
  • 复杂算法与智能功能集成:随着边缘AI、实时分析等功能不断融入,设备主控需具备更强的计算能力与存储系统支撑;
  • 环境适应性和长期稳定性:工业现场高低温、振动、电磁干扰等因素长期存在,对存储器件的可靠性提出严苛考验;
  • 产品国产化、安全可控需求日益增强:产业链自主、安全稳定已成为核心关注方向。

在此背景下,CS创世SD NAND存储芯片以其“免驱动、自带坏块管理、接口通用、功耗低、封装小、耐环境强”等优势,展现出极强的适应性与未来兼容性。不仅满足当下电力仪表对稳定性与高可靠性的需求,也为后续设备功能升级和系统演进提供充足空间。例如,支持TF卡启动的主控平台可无缝替换,满足多型号设备统一存储方案的需要;固件可定制能力也为行业客户打造差异化方案提供支持。

未来,随着国产替代和智能制造持续推进,CS创世SD NAND有望在更多工业仪表、边缘计算节点及物联网设备中广泛应用,成为国产工业级嵌入式存储的可靠支撑。


如您对本产品的技术方案感兴趣,欢迎免费申请存储芯片样片(CS创世CSNP32GCR01-AOW)和配套测试板进行验证与评估,详情请访问雷龙发展官网https://www.longsto.com/

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